さ行
- サスペンション
粒子が分散し浮遊している懸濁液をサスペンションと呼びます。
- サブミクロン粒子
大きさが１μｍ以下から１００ｎｍ以上の粒子
- 散乱強度パターン
レーザー回折・散乱方式では粒子群の散乱パターンを解析します。レーザー光の回折と散乱の光を複数のディテクター（受光素子）で光の量を測定し散乱パターンの強度（量）を解析しています。
- 散乱光強度
光が粒子に照射され散乱した光の強さで、ゼータサイザーナノシリーズの場合レーザー光の散乱光強度の変化状態で粒子の大きさを取得しています。
- 質量（基準）分布
粒子径分布の測定方法で、各粒子径での質量から求めた分布です。個数基準分布から演算によって変換される場合もあります。
- 小円形度粒子比率
FPIAシリーズの解析項目の一つで、設定された円形度閾値より小さい円形度の粒子数比率。
- シリカ
無機酸化物で石英や珪藻土、金属、シリコンなどを原料として製造され、さまざまな用途に使用されます。
- 試料の採取
粉体の測定に試料の採取は重要です。対象とする粉体と測定に必要な試料量はわずかで、試料の採取場所により測定結果が異なる場合があり、粉体の混合、分割採取など工夫が必要です。
- 試料の調製条件
粒子径分布の測定で湿式（溶液に粉体を分散し測定する方式）では分散剤としてヘキサメタりん酸ナトリウム、界面活性剤などを添加、超音波バスなどで粒子を分散し測定します。分散剤濃度、超音波バスの照射強度と時間などの条件で測定結果が変動します。粒子濃度の調整も測定装置により適切に設定します。
- 試料の分散法
粉体の粒子径測定には溶媒に分散させた測定試料を必要とします。粒子を溶媒に分散させるときは分散剤の添加や超音波の使用により凝集を防ぐことが重要です。
- スキャッタグラム
X軸・Y軸の二次元グラフ。FPIAシリーズではX軸に粒子径パラメータ、Y軸に形状パラメータにて表示しています。
- ストークスの式
微粒子が流体中で沈降するときの速度を表す式。もともと球が流体粘性抵抗を受けながら沈降するときの式ですが、粒子の大きさ（ストークス径）を逆算するときにも用いられます。
- すべり面
溶液中の粒子は電荷をもち、粒子表面に最も強く吸着している部分を「Stern層」と呼び、表面電荷が影響を及ぼす限界の部分を「すべり面」と呼びます。この「すべり面」の電位をゼータ電位と言います。
- スラリー
粉体が溶液に高濃度で分散している懸濁液をスラリーと呼びます。
- 静的光散乱法
- ゼータ電位
- 積算分布
ある大きさ以下の粒子の量が粒子の総量に占める割合を表したものです。
- 走査型トンネル顕微鏡（STM）
プローブ顕微鏡の一種で、最初に実用化されたもの。鋭く尖ったプローブを導電性物質の表面または表面上の吸着分子に近づけて、発生するトンネル電流を使って分子や原子の電子状態や構造を見ることができます。
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）
先端を尖らせたプローブを走査するもっとも新しいタイプの顕微鏡。この顕微鏡の登場で、個体の表面の原子や分子レベルの表面状態を観察することが可能です。
- 相当径
粒子の大きさとして測定された量を円とか球や立方体に換算してえられる代表径を相当径と総称します。等面積円相当径や等体積球相当径があります。それぞれ、普通、単に円相当径、球相当径といいます。
- 造粒
粒子を集めて大きな粒子にする技術を造粒と言います。現在さまざまな造粒方法が開発されています。
- 素粒子
物質を構成する基本的な単位となる微細な粒子の総称で、光子・ニュートリノ・ミュー粒子など現在までに200 種を超える種類が発見されています。
