短時間（試料を装置に投入してからデータ表示まで約2分）で測定結果を表示します。測定カウント数を任意に設定することで、粒子濃度に影響されず同じ個数の粒子が解析できます。

流体力学を応用したフラットシースフローにより、粒子はフローセルの中心を通過するように制御されます。こうして形成された試料流中の粒子を、CCDカメラが常にフォーカスの合った状態で撮像します。

有機溶媒対応のFPIA®-3000Sでは、分散媒として有機溶媒を使用できるため、水溶性の試料や水分散以外の試料でも問題なく測定できます。

円形度をはじめとする形状パラメータによる、粒子径だけではわからない粒子の特徴を提供します。また撮像されたすべての粒子はbmp形式で保存できます。

スキャッタグラム（粒子径と形状パラメータを同時に表示した図）を利用することにより、指定した領域に含まれる粒子画像だけを表示・解析できます。

円相当径以外に、最大長や周囲長など、すべての粒子径パラメータで解析基準を選択できます。また、解析基準は個数基準以外に体積基準・面積基準・長さ基準から選択できます。例えば、カラム用シリカ粒子や研磨材など微小粒子の存在が品質に影響する粒子の場合、円相当径を個数基準で解析・表示することで、微小粒子の存在を容易に確認できます。

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上記の機能を使用するためにはVer00-13以降のソフトウエアが必要です。

測定方法を設定したファイル（SOP)を簡単に設定できます。このSOPファイルを使用することで、どなたでも再現性の良い結果が得られます。
NISTにトレーサブルな標準粒子で校正することにより、正確なデータを提供します。

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NIST（National Institute of Standards and Technology)は、米国の標準技術に関する研究施設です。

撮像した粒子画像の背景色を変更することで、粒子の輪郭をはっきりと表示できます。

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上記の機能を使用するためにはVer00-13以降のソフトウエアが必要です。

撮像した全粒子について粒子個々の粒子径や形状などすべてのパラメータをCSVファイルで出力できます。これにより、複数の条件に一致する粒子を抽出・解析できます。(例えば、3μm<円相当径<10μm、0.20<円形度<0.95、かつ0.85<包絡度<0.95など）

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上記の機能を使用するためにはVer00-13以降のソフトウエアが必要です。

粒子と分散媒間のコントラストが低い粒子の測定が可能になりました。

従来のFPIA®-3000に搭載されている明視野光学システムでは、粒子と分散媒間のコントラストが低い試料の正確な輪郭測定が困難な場合がありました。
新規開発した暗視野光学システムを搭載したFPIA®-3000では、この課題を解決し、これまで粒子輪郭測定が困難であった粒子と分散媒間のコントラストが低い製剤・マイカ・培養細胞などを測定できます。

レポートデザイナー機能により測定結果・ヒストグラム・粒子画像などを自由に組み合わせた報告書を作成・出力できます。さらに作成した報告書フォーマットを保存しておくことにより、必要に応じて最適なフォーマットで報告書が出力できます。

• フロー式画像解析法

FPIA®-3000/FPIA®-3000Sで測定可能な粒子の大きさの範囲です。
【表示範囲】0.25μm-400μm