短時間(約2分）で、最大36万個の粒子を撮像・解析・保存。
研究開発や品質管理のスピードアップ、省力化に貢献。
ナノテクノロジーの研究・開発・品質管理に貢献する、粒子径、ゼータ電位、分子量の計測が可能なゼータサイザーナノ。さまざまな粒子計測に係わる複雑な機能も、シンプルなオペレーションで使用可能な、機能性に富んだマシンです。
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測定セルの中央部での計測を可能にしたM3技術により高分解能と再現性を高め、新たに開発したPALS技術の搭載でより移動速度の遅い粒子までも計測可能にしましたので、広範囲の試料を信頼性高く測定できます。
世界初のメンテナンスフリーのゼータ電位測定セルにより交差汚染の防止と洗浄による手間を省きました。クロスコンタミネーションゼロによる高精度測定が可能です。
非接触後方散乱光学技術(NIBS)により、0.6nmから6000nmまでの広い範囲の粒子径を高濃度のままで、かつ高感度に測定できます。
セル内のどの位置が最適な測定位置であるかは、試料の濃度によって異なります。小さな粒子で低濃度の試料の場合は、散乱ボリュームを最大にするためにセルの中心に近い位置が最適な測定位置となります。濃度の高い試料の場合は、光が試料を通過しなければならない距離をできるだけ短くするためにセルの壁面近くが最適な測定位置となります。
静的光散乱(SLS)とDebye Plotを用いて2×107Daまでの高分子やタンパク質の分子量を簡単に求めることが出来ます。
- 【粒径測定】：動的光散乱法 (NIBS)
- 【ゼータ電位測定】：電気泳動／レーザ・ドップラー法 (M3-PALS)
- 【分子量測定】：静的光散乱法(Debyeプロット)
- エマルション
- 高分子
- 農薬
- シリカ
- リポソーム
- タンパク
- 医薬品
- 糖
- 食品
- その他
- 金属コロイド
- 化粧品
- 界面活性剤
- CMPスラリー
- インク
- カーボン粒子
- フラーレン
- 酸化チタン
ゼータサイザーナノシリーズで測定可能な粒子の大きさの範囲です。
【測定範囲】約0.6nm～6.0μm
